接触电阻的测量

除用毫欧计外,也可用伏-安计法，安培-电位计法。

在连接微弱信号电路中，设定的测试数条件对接触电阻检测结果有一定影响。因为接触表面会附有氧化层，油污或其他污染物，两接触件表面会产生膜层电阻。由于膜层为不良导体，随膜层厚度增加，接触电阻会迅速增大。膜层在高的接触压力下会机械击穿，或在高电压、大电流下会发生电击穿。但对某些小型连接器设计的接触压力很小，工作电流电压仅为mA和mV级，膜层电阻不易被击穿，接触电阻增大可能影响电信号的传输。

在GB5095“电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法”中的接触电阻测试方法之一，“接触电阻-毫伏法” 规定，为防止接触件上膜层被击穿，测试回路交流或直流的开路峰值电压应不大于20mV，交流或直流的测试中电流应不大于100mA。

在GJB1217“电连接器试验方法”中规定有“低电平接触电阻” 和“接触电阻”两种试验方法。其中低电平接触电阻试验方法基本内容与上述GB5095中的接触电阻-毫伏法相同。目的是评定接触件在加上不改变物理的接触表面或不改变可能存在的不导电氧化薄膜的电压和电流条件下的接触电阻特性。所加开路试验电压不超过20mV，试验电流应限制在100mA。在这一电平下的性能足以表现在低电平电激励下的接触界面的性能。而接触电阻试验方法目的是测量通过规定电流的一对插合接触件两端或接触件与测量规之间的电阻。通常采用这一试验方法施加的规定电流要比前一种试验方法大得多。如军标GJB101“小圆形快速分离耐环境电连接器总规范”中规定；测量时电流为1A，接触对串联后，测量每对接触对的电压降，取其平均值换算成接触电阻值。

1、电阻测量电路原理

数字万用表的200Ω～20MΩ各档测量电路如图所示，这是一种采用比例法测量电阻的电路。该电路共设6个档位（200Ω、2kΩ、20kΩ、2MΩ和20MΩ）.Rx为被测电阻，R42～R47,为标准电阻（R0），被测电阻Rx经过正温度系数（PTC）热敏电阻Rr与标准电阻串联。基准电压E0（典型值为2.8V）由ICL7106提供，通过R39、VT2分压，利用VT2正向导通压降（约0.65V）作为测试电压。

根据ICL7106提供，通过R39、VT2分压，利用VT2正向导通压降（约0.65V）作为测试电压。根据ICL7106的A/D转换成比例度数的特性，当Rx两端电压等于标准电阻两端的电压时，亦即VIN=VREF时数字式表头显示为“1000”。所以RX=RO·VIN/VHO，从而实现了Ω/V转换。

该电阻档电路中好设置有过电压保护电路。电路由正温度系数热敏电阻RT(PTC500Ω或1.5kΩ)、晶体管VT1(9013型)以及消噪电容C6(0.1&mICro;F)和电阻R2、R3构成。VT1的基极与集电极短接，利用其发射极反向击穿电压代替稳压管。

2、电阻档故障检修

电阻档的故障率比较高，大多数是由于不慎用电阻档去测量220V交流电压而造成的。遇到这种情况，首先应检查量程开关的触点是否局部烧损，簧片有无变形和印制板是否局部烧断等；第二检查保护元件（RT,VT1）是否损坏，RT在温室下的电阻值为500Ω或1.5kΩ。一旦误测电压时，输入电压便经过RT-VT1-COM,把VT1的发射结反向击穿（电压钳位于6V左右，可保护7103不受损坏）。与此同时，RT阻值急剧增大，起到限流作用，从而确保VT1处于软击穿状态。只要撤去输入电压，VT1就恢复正常状态。